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在半導(dǎo)體和電子制造行業(yè),潔凈室是芯片誕生的"搖籃"。氮?dú)猓∟?)、氬氣(Ar)等工藝氣體被廣泛用于晶圓清洗、刻蝕、封裝等關(guān)鍵環(huán)節(jié),氣體中哪怕ppb級(jí)別的微量水分,都可能在芯片表面形成氧化層或引發(fā)腐蝕,導(dǎo)致線路短路、良率下降甚至整批報(bào)廢。英國(guó)肖氏(SHAW)便攜式露點(diǎn)儀SADP-D,憑借快速響應(yīng)和便攜設(shè)計(jì),成為潔凈室氣氛監(jiān)控的實(shí)用工具。

半導(dǎo)體制造對(duì)環(huán)境潔凈度的要求極為苛刻,工藝氣體的露點(diǎn)控制同樣不容忽視。當(dāng)?shù)獨(dú)饣驓鍤庵械乃趾科邥r(shí),水汽會(huì)在晶圓表面凝結(jié)或與材料發(fā)生反應(yīng),造成柵極氧化層缺陷、金屬互連腐蝕等問(wèn)題。這些缺陷往往在后道測(cè)試甚至出貨后才被發(fā)現(xiàn),造成巨大的經(jīng)濟(jì)損失。
因此, Fab廠需要對(duì)各用氣點(diǎn)的氣體露點(diǎn)進(jìn)行定期抽查,確保干燥系統(tǒng)持續(xù)穩(wěn)定運(yùn)行。
SADP-D提供五種傳感器可選,其中藍(lán)(B)傳感器覆蓋-80°C至+20°C露點(diǎn)范圍,對(duì)應(yīng)0~23,000 ppm(v)水分濃度,能夠覆蓋潔凈室工藝氣體從一般干燥到深度干燥的檢測(cè)需求。
儀器精度達(dá)±3°C露點(diǎn),分辨率0.1°C,重復(fù)性優(yōu)于±0.5°C,在潔凈室內(nèi)即可給出穩(wěn)定可靠的讀數(shù)。反應(yīng)時(shí)間方面,干燥→潮濕響應(yīng)小于20秒,潮濕→干燥小于120秒,完quan滿zu多用氣點(diǎn)快速巡回檢測(cè)的節(jié)拍要求。
潔凈室對(duì)帶入物品有嚴(yán)格管控,設(shè)備必須小巧、無(wú)污染。SADP-D整機(jī)尺寸僅200×225×278mm,由6節(jié)C型電池供電,連續(xù)運(yùn)行超過(guò)150小時(shí),配有2米PTFE取樣軟管和專用皮革便攜箱,工程師可隨身攜帶至各用氣點(diǎn),即插即測(cè)。
其獨(dú)特的干燥劑頭設(shè)計(jì),使傳感器在兩次測(cè)試之間始終保持干燥,確保每次開(kāi)機(jī)都能即刻開(kāi)始測(cè)量,無(wú)需等待預(yù)熱。316燒結(jié)不銹鋼過(guò)濾器可有效阻隔顆粒污染,保護(hù)傳感器的同時(shí)也不會(huì)對(duì)潔凈室造成二次污染。
在半導(dǎo)體和電子制造中,工藝氣體的露點(diǎn)監(jiān)控是良率保障的關(guān)鍵一環(huán)。SADP-D憑借藍(lán)傳感器的寬量程覆蓋、快速響應(yīng)和便攜潔凈的設(shè)計(jì),讓工程師在潔凈室內(nèi)就能完成各用氣點(diǎn)的露點(diǎn)抽查,把水分隱患控制在源頭,為每一片芯片的品質(zhì)保駕護(hù)航
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